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础滨驱动的设计应用
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CODE V 快速且精确的公差分析工具
应用介绍
- 当光学系统设计完成，进行小批量生产时，为何光学性能和原设计会有落差？
- 机构装配的误差该如何在前期模拟时考虑？
- 光学组件制造和机构装配的公差参数非常多，要如何快速进行公差分析？
CODE V不仅为光学工程师提供优质的光学设计平台，更提供多样且快速的公差分析工具，协助您在设计过程中快速预测公差所导致的性能下降影响，以便及时修改设计。
快速的公差分析
CODE V的TOR公差分析算法是业界公认最快且精确的公差分析工具。它可以对系统的MTF、波前误差、光纤耦合效率、偏振依赖损耗、以及畸变等性能进行公差分析。下图是一手机镜头，具有13个视场，8个Qcon非球面，含传感器保护玻璃共有10个表面（不含stop及像面）。对此系统添加86项默认公差及像面补偿器，以波前误差为性能指标进行反转灵敏度公差分析。1秒钟内完成公差分析并产生累积概率图。
易于判断全部公差对系统的敏感性
通过累积概率图（或称良率图），您可以快速掌握全部公差对系统的敏感程度，曲线越平缓越敏感。鼠标移动到曲线某处，即可读出其性能指标值对应的良率。
文字页面为详细的公差分析数据，可查看单个公差的分析结果。最终数据为每个视场的竣工性能，显示全部视场在相同补偿值下，98%良率的竣工结果。
更有效率判断系统对哪些公差较为敏感
CODE V提供交互式公差工具，帮助设计者对公差进行排序。当执行TOR分析后，即可启动该功能，它将最敏感的公差排在最前面。当设计者确认可紧缩（或放松）公差值时，直接在交互式公差中输入，立即重新评价并排序，无须再次执行公差分析。
多样的公差分析工具
CODE V也提供有限差分和蒙特卡洛两种算法可以使用。当您欲评价的性能指标不属于TOR公差分析所适用的性能时，可自行编辑性能指标，并使用上述两种算法进行公差分析。
结语
CODE V提供速度优于业界的公差分析工具，让您可以在每个设计阶段，快速掌握系统的公差与竣工性能，是您不可或缺的光学设计工具。
更多公差分析说明可下载并参考白皮书，或是联络我们以进一步洽询。